科学研究

材料学院学术报告十九:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术及其应用

发表于: 2021-10-12 14:15 点击:

报告主题:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术及其应用

报告嘉宾:李展平(教授,清华大学)

时  间:20210725日(周日)上午1000

地  点:材料学院536会议室

报告人简介

李展平博士1979-1983年就读于中山大学物理系,获理学学士;1983-1986年就读于清华大学,获工学硕士;2004-2005年在日本东北大学,获博士学位。19866-19914月留校任职于清华大学无线电电子学系,任助教、助理研究员。19916-200512月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作,历任俄歇电子能谱(AES)X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)20061月至今被人才引进至清华大学分析中心,任高级工程师。目前主要利用AESXPSSIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文四十多篇。

报告内容简介

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)能以极高的灵敏度(ppmppb)检测包括H在内的所有元素及其化合物信息。它被誉为是一种普适的分析技术。本报告介绍了TOF-SIMS的基本原理、技术特点,以及它在有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等各种领域的应用。

欢迎有兴趣的师生前来参加!


材料学院


20210720


地点 守璞楼材料学院536会议室 时间 2021年07月25日
时分 上午10:00点 星期 星期日

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